4MITECH 포엠아이텍 Business / EMC Solution
Business02EMC Solution

Evidence before compliance

시뮬레이션과 사전 적합성 시험, 방사·전도 노이즈 분석과 개선 검증까지.
보이지 않는 간섭을 데이터로 읽고 제품의 신뢰로 전환합니다.

Spectrum / live analysisSignal acquired
01MEASURESignal evidence
02ANALYZERoot cause
03IMPROVEDesign feedback

Diagnosis loop connected

결과표보다 중요한 것은
원인을 이해하는 일입니다.

측정에서 멈추지 않고,
개선의 근거까지.

시험 결과를 합격과 불합격으로만 구분하지 않습니다. 주파수와 경로, 결합 구조를 분석해 노이즈의 발생 원인을 좁히고 실제 설계 변경으로 이어질 수 있는 판단 근거를 만듭니다.

Closed diagnosis loop

FIVE STEPS.
ONE EVIDENCE CHAIN.

개발 단계의 예측부터 개선 후 재검증까지
같은 기준과 데이터로 문제를 추적합니다.

01

SIMULATE

Before measurement

제품 구조와 신호·전원 경로를 검토해 잠재적인 EMI/EMC 리스크를 개발 앞단에서 예측합니다.

02

MEASURE

Evidence capture

방사·전도 환경에서 재현 가능한 데이터를 확보하고 기준 대비 노이즈 특성을 확인합니다.

03

DIAGNOSE

Root cause analysis

Spectrum Receiver, Near-field Probe와 CM/DM 분리 분석을 통해 발생원과 결합 경로를 좁힙니다.

04

IMPROVE

Design feedback

회로·PCB·부품·케이블·기구 조건을 함께 검토해 제품에 적용 가능한 개선 방향을 제안합니다.

05

VERIFY

Close the loop

개선 전후 데이터를 동일 조건으로 비교해 효과를 확인하고 다음 설계의 기준으로 축적합니다.

제품의 조건이 달라도
측정의 기준은 선명하게.

자동차, IT, 전원 제품과 특수 환경까지 대상 제품의 실제 전원·안테나·운용 조건을 고려합니다.

01 / AUTOMOTIVE

LOOP · ROD
TO HORN

HV / LV LISN

차량 전장품의 전원과 주파수 조건을 고려한 방사·전도 노이즈 분석
02 / IT

LOOP
ANTENNA

AC / DC LISN

정보기기의 전원 및 케이블 경로에서 발생하는 간섭 측정과 원인 진단
03 / POWER

DC 1.5kV
15kW

AC Source

고전압·고전력 조건을 고려한 전원 제품의 노이즈 특성 분석
04 / ANALYSIS

SPECTRUM
& NEAR FIELD

Receiver · NF Probe · CM/DM

주파수 성분, 근접장 분포와 공통·차동 모드 분리를 통한 정밀 디버깅
Registered experience

전자파 공인인증
등록 이력

KTR 전자파 공인인증 등록 경험과 축적된 시험·해석 체계를 바탕으로 개발 단계의 사전 검증부터 개선 판단까지 지원합니다.

Two engineering bases

MAIN & SATELLITE.
ONE DIAGNOSIS STANDARD.

천안과 서울의 시험 거점을 연결해
프로젝트 위치와 단계에 맞게 대응합니다.

01 / CHEONANMain Chamber

MAIN
CHAMBER

자동차·군수·IT 환경의 전자파 시험과 고전력 조건 분석을 수행하는 핵심 시험 거점입니다.

Full test environment
02 / SEOULSatellite Chamber

SATELLITE
CHAMBER

개발 단계의 빠른 사전 측정과 디버깅, 개선 방향 검토를 지원하는 수도권 시험 거점입니다.

Fast engineering access

Technical ownership

THREE CONTACTS.
ONE EMC JUDGMENT.

사업 판단과 각 시험 거점의 기술 대응이
하나의 진단 흐름으로 연결됩니다.

EMC SOLUTION / 4MITECH

노이즈를 발견하는 것을 넘어,
제품의 다음 기준을 만듭니다.

Simulated. Measured. Diagnosed. Improved.